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广东博仕检测科技有限公司


   博仕检测(广东博仕检测科技有限公司)由留美博士创立,是一家具备CMA(检验检测机构资质认定)与CNAS(中国合格评定国家认可委员会)双重资质的第三方专业实验室。公司始终秉持“方法科学、行为公正、数据准确”的方针,已累计服务超1000家客户,致力于为半导体、电子元器件及新材料产业提供权威、高效的全链条解决方案。

      依托专业的技术团队与尖端设备,博仕检测构建了四大核心检测板块:

  • 材料表征:配备扫描电镜SEM、聚焦离子束电镜FIB、透射电镜TEM、EDS、XPS等设备,提供从纳米到宏观的微观形貌、晶体结构及成分分析,为材料研发与品质管控提供关键数据。

  • 失效分析:针对PCB/PCBA、芯片及元器件,提供热点侦测、内层短路定位与BGA检查。结合精准截面制样与微区成分分析,快速锁定烧毁、分层等失效机理。

  • 可靠性试验:通过冷热冲击、恒温恒湿、盐雾及气体腐蚀等设备,模拟严苛环境,加速评估产品在生命周期内的环境适应性与长期耐久性。

  • 光电检测:主要聚焦于近场光学测试、光谱仪分析以及电性测试等,为光电器件及材料提供精准的光学特性表征、光谱数据分析与电气性能验证。

    范围

服务产业:新能源汽车、PCB/PCBA线路板、二极管、三极管电子元器件半、导体芯片、锂电池、金属、纳米材料等。

博仕检测总部位于广州黄埔区,并在北京、成都、苏州等地设有办事处,服务热线电话400-029-9908。


检测项目见下表:

类别
项目设备
材料表征微观结构SEM钨灯丝扫描电子显微镜
场发射扫描电子显微镜
FIB聚焦离子束电子束双束显微镜
PFIB多气源聚焦等离子束电子束双束显微镜
TEM场发射透射电子显微镜
AC-TEM双球差校正场发射透射电子显微镜
EBSD电子背散射衍射仪
CP氩离子抛光仪
金相制样金相研磨仪
OM超景深光学显微镜
成分分析EDS(SEM)能量散射光谱仪(SEM)
EDS(TEM)能量散射光谱仪(TEM)
EELS电子能量损失谱
XPSX射线光电子能谱仪
AES俄歇电子能谱仪
D-SIMS动态-二次离子质谱仪
TOF-SIMS-表面质谱飞行时间二次离子质谱仪
TOF-SIMS-二维面扫
TOF-SIMS-三维剖析
FTIR傅里叶变换红外光谱仪
Laman拉曼光谱仪
XRFX射线荧光光谱仪
XRDX射线衍射仪
EPMA电子探针显微镜
ICP-OES电感耦合等离子体发射光谱仪
ICP-MS电感耦合等离子体 -质谱仪
表面分析WIL白光干涉仪
AFM原子力显微镜
XRRX射线衍射仪
LSCM激光共聚焦显微镜
热分析TGA热重分析仪
TMA热机械分析仪
DMA动态热机械分析仪
DSC差示扫描量热仪
可靠性试验Pre-con预处理
MSL温度敏感等级
HTOL高温工作寿命
LTOL低温工作寿命
BLT高温偏压寿命
ELFR早期寿命失效率
HAST偏压高加速应力
uHAST无偏压高加速应力
HTSL高温储存
LTSL低温储存
TC温度循环
TS温度冲击
PCT高压蒸煮
THB温度湿度偏压
TH温湿度储存
NSS中性盐雾试验
H2S硫化氢气体腐蚀
MFG混合气体腐蚀
SD可焊性
BS焊球推力
WP焊线拉力
V&ST振动冲击试验
失效分析整机失效分析
Thermal热成像定位
EMMI光发射显微定位
OBIRCH激光扫描定位
SAT超声波扫描显微镜
2D X-RAY2D X射线成像
CT电子计算机断层扫描
Decap开盖
光电检测LED近场光学
光谱分析测试
ESD静电放电
EOS过电应力
DWV绝缘耐压


透射电镜TEM测试案例:

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双束聚焦显微镜FIB-SEM测试:

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氩离子切割/抛光制样CP-SEM测试案例:

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软板(FPCB)盲孔氩离子抛光截面制样+SEM观察

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广东博仕检测科技有限公司

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