服务热线：400-029-9908
-
芯片失效故障定位技术-EMMI&Obirch
发布时间：2025-04-14
案例背景： 半导体芯片生产或使用过程中发现存在漏电、短路现象。在金属覆盖区域有热点的话，Obirch也可以检测出来。两种...... -
X射线三维显微镜x-ray
发布时间：2024-02-18
设备型号：EFPscan-2000A可检测范围：满足650mm*750mm，最大检测厚度：10mm空间分辨率：2μm 像...... -
透视成像Xray检测
发布时间：2024-02-18
X-Ray检测设备原理1、首先X-Ray设备主要利用x光的穿透作用，x光线波长很短，能量特别大。当照射到物质上时，物质只...... -
无损检测技术-⼯业CT
发布时间：2024-02-18
⼯业CT检测和X射线Xray检测是⽆损检测领域最常⽤的解决⽅案，这两种检测⽅式都是利⽤了X射线能够穿透物质的原理来探测物...... -
超声波扫描显微镜 （SAT/C-SAM）
发布时间：2023-02-14
超声波扫描显微镜C-SAM测试原理：通过向被测物发射高于20KHz的高频超声波传递到工件内部，在经过两种不同材质之间界面......
广东博仕检测科技有限公司
测试咨询：
广州总部：400-029-9908
北京办事处 黄经理：17362323401
成都办事处 陈经理：18122487888
杭州办事处 罗经理：15920446269
武汉办事处 黎经理：18802087095
地址：广东省广州市黄埔区科学城瑞和路79号
邮箱：BST@boshi-test.com
微信公众号：
