设备型号：德国布鲁克DEKTAK XT

测量尺度：

适用于纳米尺度的表面轮廓测量、薄膜厚度测量和平整度等精密测量

应用：

应用于微电子、半导体、太阳能、高亮度LED、触摸屏、医疗、科学研究和材料科学领域。