离子研磨CP-SEM在锂电池电极材料分析的应用
发布时间:2023-09-11
氩离子抛光+高分辨电镜 CPSEM在锂电池领域的应用情况
氩离子抛光CP-SEM凭借其大面积制样、高精度、高还原度等优势在锂电材料来料检验、工艺管控、质量控制、生产研发和失效分析上屡创佳绩,以下分享锂电材料测试案例:
1、正、负极极片SEM截面形貌及元素分析EDS
通过对锂电池正极、负极极片进行离子研磨截面抛光处理后SEM观察,可以清晰观察到颗粒形貌及涂层并准确测量涂层厚度,通过EDS-mapping面扫还可以看到不同元素在样品中的分布情况,可分析活性物质的分布是否均匀、质控极片活性物质的辊压厚度及粘结剂的分布情况和是否发生失效等等。
2、多层结构样品分析
除了常规的正负极极片,对较厚的多层结构样品依旧能够保证有效抛光,无需对样品进行分离也不会破坏样品的整体结构。通过SEM拍摄可以看清样品的多层结构以及分布情况,进一步放大可以看清每一层结构的形貌以及厚度,最大程度上反映了样品的真实情况,为样品后续的分析和改良提供了强有力的数据支撑。
3、粉体颗粒截面分析
除了对常规极片进行截面分析,还可以对正负极粉末材料做离子研磨截面分析。博仕检测以提供树脂包埋前处理方式对正负极材料粉体颗粒进行截面抛光观察。且这种方式是常规SEM、TEM等电镜手段无法直接观察到的,可以为电池企业技术人员对材料的分析和改良进一步提供帮助。