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EBSD分析技术

发布时间:2025-04-15

EBSD技术可以通过研究晶粒取向关系、晶界类型、再结晶晶粒、微织构等,反应材料在凝固、形变、相变、失效破坏等过程中晶粒是如何形核长大及晶粒间的取向转换等,可以作为技术人员提高材料性能的理论依据。

EBSD技术-材料微观分析技术:电子背反射衍射技术(Electron Back-ScatteredDiffraction) , 又称EBSP( Electron Back-Scattered Pattern ) 或取向成像显微技术OIM(Orientation Imaging Microscopy) 。装配在SEM上使用, 一种显微表征技术。通过自动标定背散射衍射花样, 测定大块样品表面(通常矩形区域内) 的晶体微区取向和晶体结构。

EBSD系统组成

扫描电子显微镜SEM

背散射电子衍射仪

高灵敏度CCD相机

EBSD花样采集标定软件

EBSD数据后处理软件



EBSD技术应用

微观结构取向成像

织构及取向差分析

晶粒尺寸及形状的分析

晶界、 亚晶及孪晶性质的分析

相鉴定及相比计算

应变测量


EBSD一个完整的标定过程

影响EBSD花样质量的因素

样品状态:形变、 再结晶, 组成元素

样品制备状态:机械法、 化学法、 电解法, 离子轰击

仪器状态:电镜参数包括高低电压、 大小电流束

软件参数调节:分析者对软件的熟悉程度

EBSD数据后处理-channel5简介

 Flamenco – 数据采集与标定

 Twist – 生成标定所需的晶体结构文件

 Project Manager – 数据处理管理器

 Tango – 取向成像图

 Mambo – 极图与反极图

 Salsa

 Salsa – 取向分布函数图(ODF)

制样要求

与一般的金相试样相比, 一个合格的EBSD样品, 要求试样表面无应力层、 无氧化层、 无连续的腐蚀坑、 表面起伏不能过大、 表面清洁无污染, 导电性良好。

案例分析:

多晶纯铜650度d35微米-再结晶退火态, 标定率65%





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